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課程名稱 |
光電儀測
Electro-optical Instrumentation |
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開課學期 |
111-1 |
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授課對象 |
電機資訊學院 光電工程學研究所 |
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授課教師 |
林恭如 |
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課號 |
OE5039 |
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課程識別碼 |
941 U0480 |
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班次 |
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學分 |
3.0 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期二7,8,9(14:20~17:20) |
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上課地點 |
博理103 |
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備註 |
總人數上限：20人 |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
本課程將以兼顧理論基礎與實用性的觀點向學生介紹以半導體為主的光電元件．內容將涵蓋元件原理、材料特性、元件結構、製程與應用等。其主要課程內容為
1. 結構分析
2. 光學特性分析
3. 時析光學特性量測
4. 電性分析
5. 載子活期與移動率分析
6. 光電元件分析 |
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課程目標 |
1. Structural Analysis
SEM, TEM, SIMS, AES, X-ray diffractrometry, STM
2. Optical Constants
Optical Microscopy, Ellipsometry, FTIR, CWPR, PL
3. Time-Resolved Optical Measurements
TRPR, TRPL, Pump-Probe, EOS, PCS
4. Defects.and Carrier Lifetimes
5. Characterization of Photonic Devices
Photodetectors (PD), Optical Modulators (EAM), Laser Diodes (LD) |
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課程要求 |
1. Mid-term Exam
2, Final report
3. laboratory experiment |
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預期每週課後學習時數 |
3 |
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Office Hours |
每週二 10:00~12:00 備註： must reserve one week ago |
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指定閱讀 |
Textbook:
Lecture
Reference:
1. D. K. Schroder, “Semiconductor Material and Device Characterization”, Wiley, 1998.
2. P. Bhattacharya, “Semiconductor Optoelectronic Devices”, 2nd ed., Prentice Hall, 1997. |
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參考書目 |
3. Wilson and Hawkes, “optoelectronics”, Prentice Hall International, 1997.
4. Fukuda, “Optical Semiconductor Devices”, John Wiley and Sons, 1999.
5. Singh, “Semiconductor Optoelectronics: Physics and Technology”, McGraw Hill, 1998.
6. Donati, “Photodetectors: Device, Circuit, and Applications”, Prentice Hall, 2000. |
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評量方式
(僅供參考) |
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No. |
項目 |
百分比 |
說明 |
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1. |
Final Report |
50% |
lab experiments, slides, papers, oral presentation for 15 minutes |
2. |
Mid-term Exam |
50% |
Open Lecture |
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針對學生困難提供學生調整方式 |
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上課形式 |
以錄影輔助, 提供學生彈性出席課程方式 |
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作業繳交方式 |
團體報告取代個人報告 |
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考試形式 |
書面(口頭)報告取代考試, 考試取代書面(口頭)報告 |
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其他 |
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週次 |
日期 |
單元主題 |
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第0週 |
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第1週 Introduction
第2週 SEM
第3週 SIMS I
第4週 SIMS II and AES I
第5週 AES I and AES II
第6週 TEM I
第7週 TEM II and STM
第8週 STM and AFM
第9週 Mid-Term Exam
第10週 NSOM and Confocal Microscopy
第11週 Optical Microscopy, Ellipsometry,
第12週 Defects
第13週 PL
第14週 lab experiments I - Sources, Detectors, Analyses
第15週 lab experiments II - Sources, Detectors, Analyses
第16週 TRPR, TRPL, Pump-Probe
第17週 Final Report |
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